过去大家对人体模型(HBM)和机器模型(MM)相当重视，而忽视了带电器件模型(CDM)对器件造成的损坏。近年的研究证明，在自动化程度越来越高，器件本身带电所造成的损坏远多于HBM和MM。IC等器件本身由于接触分离及摩擦如从管内倒出带电，在接触或处理器件如由机器手或人取出时会时器件会发生放电，在流水线上常见的ESD就是典型的CDM静电放电。CDM与HBM和MM无论在试验原理方法和程序上都有很大的不同，HBM和MM都是由于IC外部的静电放电造成IC等器件损坏，而CDM是器件对其它物体放电所造成的损坏，从模型的基本理论、测试原理，试验方法，测试设备都完全不同于HBM和MM。

CDM-I6K静电试验测试系统是按照标准设计的专门测试CDM的模拟器，具有试验电压宽、精度高、分辨率高、稳定性好(时漂小于0.1%)、价格低等优点。

产品特点

本系统用于CDM静电测试试验。主要由直流高压源、测试主机、静电测试探针（含衰减器）三部分构成，可实现带电器件模型（CDM）静电感应带电、静电放电及放电信号采集测试功能。

产品标准

ESD STM5.3.1—199

应用领域

芯片、IC电路、元器件等……

技术参数